在這簡略分享我的碩班研究,以及碩班報告的投影片。
我在臺大電子所的研究主題是設計、製作與分析雪崩光電二極體(Avalanche Photodiode,APD),這是與中科院〈材料暨光電研究所〉的學術合作案。雪崩光電二極體是由「雪崩效應」(Avalanche breakdown)與「光電二極體」這兩個概念結合而成。
碩士論文:InP/InGaAsP/InGaAs 雪崩光電二極體之 TCAD 模擬、 護環效應與暗電流分析
光電二極體,對該元件照射可見光時,可有效將其轉換為電流。再藉由雪崩效應,將微小的電流放大數倍。以成功偵測、辨識極其微弱的光訊號。由此,經過特別設計的雪崩光電二極體即可作為「單光子偵測器」(Single-photon detector,SPD),進一步做成「光學雷達」(Light detection and ranging,Lidar)。在軍事方面,可用來偵察隱形戰機、探測地形,也可為自駕車掃描感應周邊環境。不過我的研究並沒有成功做出那麼前衛的光學雷達。事實上光學雷達並不是「一顆SPD」,他是由一顆APD搭配許多電路元件所組成的一個「電子元件系統」;SPD不過是其中的主要光感元件。
因為我們實驗室委外製作磊晶元件,所以我的研究重點為:
- 元件設計
- 元件製作(委外)
- 元件分析
元件設計
- 利用 Sentaurus TCAD 中的 Process & Device simulation,模擬元件結構及電性。
- 依據學術合作案指定的元件電性規格,設法找到最適當的磊晶結構。
- 倘若能模擬出正確元件電性,那麼就能藉此模型嘗試各種磊晶結構,找到最佳結構。
- 困難在於,如何正確模擬?模擬最為人詬病的點在於,模型與參數可能全錯。
- 而我的貢獻,就在於通盤了解對於當前元件最重要的電性模型,即 Hurkx trap-assisted tunneling model,其等效修正了 SRH recombination rate 中的載子生命期。
$$R_\text{SRH}\equiv\frac{np-n_i^2}{\tau_{p}(n+n_1)+\tau_n(p+p_1)}\tag{1}$$
$$\tau_{p}\equiv\frac{\tau_{p0}}{1+\Gamma_{p}}\quad;\quad\tau_{n}\equiv\frac{\tau_{n0}}{1+\Gamma_{n}}\tag{2}$$
元件分析
- 實際元件電性肯定有好有壞。
- 分析好的電性,研究是否符合 TCAD 模擬結果,並藉實驗數據校準電流模型參數。
- 分析壞的電性,提出元件故障模型,並由 TCAD 重現故障電性,以驗證模型。
Guard ring design
20180803 Guard Ring Design.pptx
Trap analysis – Validity of Hurkx trap-assisted tunneling
20190925 Trap analysis – Validity of Hurkx trap-assisted tunneling.pptx
Verification of TCAD simulation (lifetime & trap discussion)
20191023 Verification of TCAD simulation (lifetime & trap discussion).pptx